X-Ray檢測(cè)設(shè)備是用來反省芯片封裝的牢靠性的有效工具，它可以檢測(cè)出芯片封裝外部的缺陷，從而保證芯片封裝的牢靠性。為了提高產(chǎn)品的封裝質(zhì)量，因此需結(jié)合運(yùn)用X-RAY無損檢測(cè)設(shè)備停止芯片封裝檢測(cè)，以*限制地控制劣質(zhì)產(chǎn)品和廢品。本文將引見X-Ray檢測(cè)設(shè)備在保證芯片封裝牢靠性方面的運(yùn)用。

芯片封裝是將半導(dǎo)體前段制程加工完成的晶圓經(jīng)過切割、粘貼、鍵合加工后，再用塑封資料包覆，到達(dá)維護(hù)芯片組件并用于線路板的組裝裝配進(jìn)程。芯片封裝顆粒主要是提供一個(gè)引線鍵合的接口，經(jīng)過金屬引腳、球形接點(diǎn)等技術(shù)銜接到芯片系統(tǒng)，并維護(hù)芯片免于外部環(huán)境包括外力、水、雜質(zhì)或化學(xué)物等的破壞和腐蝕。

X-RAY檢測(cè)在芯片封裝牢靠性中的運(yùn)用

1、X-Ray檢測(cè)可以檢測(cè)芯片封裝的外部結(jié)構(gòu)，它可以檢測(cè)出封裝外部的焊點(diǎn)、線路布局、焊接狀況以及外觀尺寸等缺陷，從而可以有效地確保芯片封裝的牢靠性。

2、X-Ray檢測(cè)可以檢測(cè)出芯片封裝外部的焊點(diǎn)狀況，它可以檢測(cè)出焊點(diǎn)的位置、大小、外形等，從而確保焊點(diǎn)的位置正確，大小適當(dāng)，外形契合要求。

3、X-Ray檢測(cè)可以檢測(cè)出封裝外部的線路布局，它可以檢測(cè)出線路的位置、長度、寬度等，從而確保線路的位置正確，長度和寬度適當(dāng)。

4、X-Ray檢測(cè)可以檢測(cè)出封裝外部的焊接狀況，它可以檢測(cè)出焊接的質(zhì)量、掩蓋度等，從而確保焊接的質(zhì)量合格，掩蓋度達(dá)標(biāo)。

5、X-Ray檢測(cè)可以檢測(cè)出芯片封裝外觀尺寸的缺陷，它可以檢測(cè)出芯片封裝外觀尺寸的偏向，從而確保芯片封裝的外觀尺寸正確。

6、X-Ray檢測(cè)還可以檢測(cè)出芯片封裝外部的資料缺陷、外表缺陷、熱老化缺陷等。

芯片封裝的目的在于確保芯片經(jīng)過封裝之后具有較強(qiáng)的機(jī)械功用、良好的電氣功用和散熱功用。一個(gè)完整迷信的芯片封裝工藝進(jìn)程，首先應(yīng)當(dāng)滿足完成集成電路芯片內(nèi)鍵合點(diǎn)和外部電氣銜接的目的，其次還應(yīng)為芯片提供一個(gè)臨時(shí)動(dòng)搖牢靠的任務(wù)環(huán)境，不只對(duì)芯片起到機(jī)械和環(huán)境維護(hù)的作用，而且還要保證芯片正常任務(wù)的高動(dòng)搖性和牢靠性。X-Ray檢測(cè)設(shè)備可以有效地檢測(cè)出芯片封裝外部的缺陷，從而可以保證芯片封裝的牢靠性。因此，在保證芯片封裝牢靠性的進(jìn)程中，運(yùn)用X-Ray檢測(cè)設(shè)備是一個(gè)有效的方法。

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